工控產品

這是一款用於日（rì）本電（diàn）子 JEOL 透射電子顯微鏡（jìng）的五頭樣品杆，型號為 EM-11170 Pentaholder。該樣品杆主要應用於 JEOL JEM-1400、JEM-1400Plus、JEM-2100、JEM-2100Plus 等係列透射電鏡設備，可用於 TEM 樣品的裝載、插入、定位和多樣品切換。

Pentaholder 屬於多樣品位 TEM 樣品杆，一次可裝（zhuāng）載多（duō）個樣品，相比普通單（dān）樣品杆，可以減少頻（pín）繁更換樣品、反複進出樣品室以及等待真空恢複（fù）的時間，特別適合科研實驗室、材料分（fèn）析（xī）實驗室、生物（wù）樣品觀（guān）察、納米材料檢測、半導體分析以及高校電鏡平台日常（cháng）使用。

該樣品杆采用精密金屬結構，前端為五孔樣品承載結構，整（zhěng）體結構適合高真空環境下使用。對於需要連（lián）續觀察多個 TEM 樣（yàng）品的實驗場景，五頭樣（yàng）品杆可（kě）以提高（gāo）檢測效（xiào）率，也有利（lì）於保持不同樣品之間的測試條件一致性。

本產品適合作為 JEOL 透射電鏡的備件、替換件、實驗室備用樣品杆或二手電鏡配套附件使用。購買前建議用戶確認（rèn）原設備型（xíng）號、樣品杆接口形式、樣品座結構以及軟件或機械兼容性，避免因不同電鏡配置造成不（bú）匹配（pèi）。

產品特點

1. 適用（yòng）於日本電（diàn）子 JEOL 透射電子顯（xiǎn）微鏡

2. Pentaholder 五頭樣品杆結構，一次可裝載多個樣（yàng）品

3. 可用於 JEM-1400、JEM-1400Plus、JEM-2100、JEM-2100Plus 等（děng） TEM 係（xì）統

4. 減少頻繁（fán）更換樣品，提高實驗效率

5. 適用於材料、生物（wù）、納米顆粒、半導體等 TEM 分（fèn）析場景

6. 精（jīng）密機（jī）械結構，適合高真空電鏡環境使用

7. 可作為維（wéi）修備件、替換件、實驗室備用件或二手設（shè）備（bèi）附件使用

適用設備

• JEOL JEM-1400

• JEOL JEM-1400Plus

• JEOL JEM-2100

• JEOL JEM-2100Plus

• 其他兼容同（tóng）類接口的（de） JEOL 透射電子顯微鏡，需以實際設備配置為準

技術參數

購買提示

由於 JEOL 透射（shè）電鏡不同型號、不同年份、不同配置之間可能存在（zài）接口或樣品杆兼容性（xìng）差異，購買前請盡量提供（gòng）原（yuán）設備型號、原（yuán）樣品杆照片、銘牌信息或設備序列號，以便核對是否匹配。本產品為精密電鏡附件，運（yùn）輸和使用過程中應（yīng）避免撞擊、彎曲、汙染和受潮。