工控（kòng）產品（pǐn）

Veeco Dimension 3100 原子力顯微鏡（AFM）

本設備（bèi）為美國 Digital Instruments / Veeco Dimension 3100 原子力顯微鏡係統，配套（tào） Signal Access Module III 信號接入（rù）模塊。

適用（yòng）於（yú）科研級納米尺度測量與材料表征。

設備成色良好，功能正常，實物（wù）拍攝。

支持功能（néng）

• 接觸模式

• 輕敲模式（Tapping Mode）

• 非接（jiē）觸模式

• PFM 壓電響應顯（xiǎn）微

• 納米（mǐ）壓痕

• 彈性模量（liàng）測試

• 表麵粗糙度分析

• 納米結構（gòu）成像

Signal Access Module III 功能

• 控製器信號輸出接口

• 高低壓信號輸出（chū）

• 外部數據訪問

• RS232 通訊接口

• 便於科研（yán）擴展與（yǔ）二次開發

適用領域

• 納米材（cái）料研究

• 半導體檢測

• 薄（báo）膜材料分析

• 高分子材料力學測試

• 鐵電材料 PFM 研究

• 精密表麵測量