工控產品

JEOL JSM-7600F 場發射掃描電子顯微鏡（jìng），成（chéng）色良好，功（gōng）能正常，配套電腦與操作係統，適用（yòng）於高分辨率表麵分析。

JEOL JSM-7600F 是一款高性能場發射（shè）掃描電子顯微鏡（FE-SEM），采用場發射電子槍，具備極高的分辨率和寬廣的加速電壓範圍，適合納米級表麵結構觀察和分析。本（běn）設備為二手原裝，經過專業檢測，功能完好，配套（tào）控製電腦和操作係統，可直接投入（rù）使用。

主要參數與特點：

• 型號：JEOL JSM-7600F

• 電子槍（qiāng）：場發射電子槍（FEG）

• 分辨率：約 1.0 nm (15 kV)，更低電壓下仍具備優良（liáng）成像性能（néng）

• 放大倍率：10× – 1,000,000×

• 加速電壓：0.1 – 30 kV

• 探測器：二次電子（SE）、背散射電子（BSE）

• 樣品台：5軸電動樣品台，支持多角度觀（guān）察

• 配件（jiàn）：原裝控製電腦、顯示（shì）器、操作台

• 應用（yòng）領（lǐng）域：材料科學、納米科技、半（bàn）導體檢測、金屬表麵形貌、生物樣品結構分析

設備狀態：

• 成色：二（èr）手，保存良好（hǎo）

• 功能：已檢測，運行正常

• 附件：配套電腦、控製台、顯示器

• 軟件：已安裝 SEM 控製軟（ruǎn）件

應用範圍：
科研實驗室、高校研究所、工業檢測中心，特別適合對納米級結構和（hé）複雜表（biǎo）麵（miàn）進行高分辨率分析。