工控產（chǎn）品

JEOL JSM-7600F 場發射掃描電子顯微鏡，成色良好，功能正（zhèng）常，配套電腦與操作係統，適用於高分辨率表麵分析。

JEOL JSM-7600F 是一款高性能（néng）場（chǎng）發（fā）射（shè）掃描電子（zǐ）顯微鏡（FE-SEM），采用場發射電子槍，具備極高的分辨率和寬（kuān）廣的加速電壓（yā）範（fàn）圍，適合（hé）納米級表麵結構觀察（chá）和分析。本設備為二手原裝，經過（guò）專業檢測（cè），功能完好（hǎo），配套控製（zhì）電腦和操作係統，可直接投入使用（yòng）。

主要參數與特點：

• 型號：JEOL JSM-7600F

• 電子槍：場發射電子槍（FEG）

• 分辨率：約 1.0 nm (15 kV)，更低電壓下仍具（jù）備優良成像性能

• 放大倍率：10× – 1,000,000×

• 加速電壓：0.1 – 30 kV

• 探測器：二（èr）次電子（SE）、背散射電子（BSE）

• 樣（yàng）品台：5軸電動樣品台，支持多角度觀察（chá）

• 配件：原裝控製電腦、顯示器、操作台

• 應用領（lǐng）域：材料（liào）科學、納米科技（jì）、半導體檢（jiǎn）測、金屬表麵（miàn）形貌、生物樣（yàng）品結構分析

設備狀態：

• 成色（sè）：二手，保存良好

• 功（gōng）能：已檢測，運行正常

• 附件（jiàn）：配套電腦、控製台、顯（xiǎn）示器

• 軟件：已（yǐ）安裝 SEM 控製軟件

應用範圍：
科研實驗室、高校研究所、工業檢測中心，特（tè）別適合對納米級結構和複雜表麵進行高分辨率（lǜ）分析。