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Digital Instruments Dimension 3100 原子力顯微鏡 AFM(含Access Module III)美國原裝(zhuāng)

Digital Instruments(DI,後屬Veeco/Bruker體係(xì))Dimension 3100 原(yuán)子力(lì)顯微鏡(AFM),美國製造,經典科研級掃描(miáo)探針顯微鏡設備,適用於納米級表麵形貌及(jí)物性分析。

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本設備為實物(wù)拍攝,整體結構完整,包含 Access Module III 信號接入(rù)模塊,適用於擴展多種測試功能(如電學、力學、導電等模式),為科研和實驗室提供高靈活性的(de)測試平台。

設備(bèi)采用花崗(gǎng)岩基(jī)座結構,有效降低振動幹擾,確(què)保測量穩(wěn)定性。廣泛應(yīng)用於材料科學(xué)、半導體、納米技術、生(shēng)物工程等領域。

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產品特點

  • 美國 Digital Instruments 原裝設備

  • 型號:Dimension 3100

  • 原子力顯微鏡(AFM)係統

  • 配套 Access Module III 信號模塊

  • 花崗岩平(píng)台,抗(kàng)震性能優異

  • 支持多種掃描模式(接觸(chù)/非接觸/輕敲等)

  • 高分(fèn)辨率納(nà)米級測量能力


3.jpg配置說明

  • AFM主機(Dimension 3100)

  • 激光(guāng)檢測係(xì)統(掃描頭)

  • Access Module III 信號(hào)接入模塊

  • 部分連接線(xiàn)纜(如(rú)圖所示(shì))


4.jpg應用領域

  • 納米材料研究

  • 半導體檢測

  • 表麵形貌分析(xī)

  • 薄膜與塗層檢測

  • 生物材料分析(xī)


5.jpg注意事項

  • 二手設備,按現狀出售

  • 未做(zuò)完整係(xì)統測試

  • 不包含電腦(nǎo)及軟件(jiàn)(如(rú)未特別說明)

  • 建議專業實驗室(shì)人員使用


 
 
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