| Digital Instruments Dimension 3100 原子力顯微鏡 AFM(含Access Module III)美國原裝(zhuāng) |
Digital Instruments(DI,後屬Veeco/Bruker體係(xì))Dimension 3100 原(yuán)子力(lì)顯微鏡(AFM),美國製造,經典科研級掃描(miáo)探針顯微鏡設備,適用於納米級表麵形貌及(jí)物性分析。
本設備為實物(wù)拍攝,整體結構完整,包含 Access Module III 信號接入(rù)模塊,適用於擴展多種測試功能(如電學、力學、導電等模式),為科研和實驗室提供高靈活性的(de)測試平台。 設備(bèi)采用花崗(gǎng)岩基(jī)座結構,有效降低振動幹擾,確(què)保測量穩(wěn)定性。廣泛應(yīng)用於材料科學(xué)、半導體、納米技術、生(shēng)物工程等領域。
產品特點
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