工控維修

粒度儀概（gài）述

  粒度儀是一種用於測量固體顆（kē）粒大小及（jí）其分布的物（wù）理儀器，廣泛應用於材料科學、地質學、化工、食品工業等領域。它通過（guò）不同的（de）物理原理（lǐ），如（rú）激光散射、沉降、電阻、顯（xiǎn）微鏡觀（guān）察等，來精確測量和分析顆粒的（de）尺寸特性。以下（xià）是對粒度儀的（de）原理、使用方法、常見故障（zhàng）及維修（xiū）方法的總結。

原理

  粒度儀的核心原理依據測量手段的不同而有所區別，其（qí）中激（jī）光粒度儀是較為常見（jiàn）的一種。激光粒度儀利用（yòng）激光光源照射樣品，樣（yàng）品中的顆粒會散射光線，散射光的強度和角度與顆粒（lì）的大小（xiǎo）密切相關。通過測量散射光的（de）強度和分布，利用米氏散射理論或（huò）夫琅和費衍射理（lǐ）論，可以計算（suàn）出顆粒的粒徑分布。

1. 激光散射原理：當激光束照射到顆粒（lì）上時，顆粒會散射光線，散（sàn）射光（guāng）的強（qiáng）度和角度與顆粒的直（zhí）徑成反（fǎn）比。激光粒度儀通過一係列的光敏檢測器測量不同角（jiǎo）度上（shàng）的散射（shè）光強度，進而反推出顆粒的（de）粒徑分布。

2. 數據（jù）處（chù）理：儀器將收集到的散射光信號轉化為電信（xìn）號，通過內置（zhì）的軟件算法進行數據處理（lǐ），最終輸出顆粒的平均粒徑、粒徑分（fèn）布等統計參數。

使用（yòng）方法

1. 樣品準備：根據測試目的和要求，選擇合適的（de）樣品（pǐn）並進行預處理，如篩分、幹燥等，確保樣品的均勻性（xìng）和代表性。

2. 儀器開啟與校準：打開儀器電源，按照操作（zuò）手冊設置儀器參數，如流體介質、攪拌速度等。使用標（biāo）準樣品進行校準，確保測量（liàng）結果的準確性。

3. 樣品測量：將預處（chù）理好（hǎo）的樣品（pǐn）放入儀器中，啟動測（cè）量程（chéng）序，實時觀察測量過程，直至測量完（wán）成。

4. 數據分（fèn）析：測量結束後，對結果進行統計分析，計算顆粒的平均（jun1）直徑、粒徑分布（bù）等參數（shù），並繪製粒度分（fèn）布曲線，進行結果解釋和評價。

常見（jiàn）故障及維修方法

1. 激光（guāng）源問題：

• 故障現象：激光強（qiáng）度（dù）下降或不穩定。

• 維修方（fāng）法：檢查激光源是否需要更換或清潔，按照製造商指導進行操作。

2. 探測器（qì）故障：

• 故障現象：測量（liàng）結果不準確。

• 維修方法：檢查探測器是（shì）否清潔、損壞或老化（huà），必要（yào）時進行維護或更換。

3. 樣品池汙染：

• 故障現象：測（cè）量誤差大。

• 維修方法：定期清潔樣品池，確保樣品適當分散。



4. 電源問題：

• 故（gù）障現（xiàn）象：儀器無法啟動或顯示異常。

• 維修方法：檢查電源線、插座和保險絲，確保電源穩定。

5. 軟件問題：

• 故障現象：軟件運（yùn）行不穩定或無法升級（jí）。

• 維修方法：定期檢查並安（ān）裝軟（ruǎn）件更（gèng）新，確保軟件與操作係統兼容（róng）。

6. 機械（xiè）部件磨損：

• 故（gù）障現（xiàn）象（xiàng）：儀器運轉異（yì）常或噪音過大。

• 維修方（fāng）法：檢查（chá）並更換磨損部件，定期進（jìn）行潤滑。

7. 環境因素影響：

• 故障現象：測量誤（wù）差大。

• 維修方法：監控實驗室環境（jìng），調整溫濕度，避（bì）免振動和電磁幹擾。

8. 操作錯誤：

• 故障（zhàng）現象：設置錯誤或數據解讀不準確。

• 維修方法：提供操作培訓，確保用戶了解軟件各（gè）項功能。

  綜上所述，粒度儀作為（wéi）一種重（chóng）要的（de）顆粒分析儀器，在多個領域發揮著重要作用。通過（guò）正確的使（shǐ）用和定期的（de）維護，可以確保儀器的準確性和穩定性（xìng），為科研和工業生產提供可靠的數據支持。同時，麵對各種故障，及時采取有效的維修措施，可以延長儀器的使用壽命，提（tí）高工作效率。

91视频网址入口機電維修過的粒（lì）度儀品牌和型號

   1、Malvern Panalytical

（1）Mastersizer係列：Mastersizer 3000，Mastersizer 2000

（2）Zetasizer係列（liè）：Zetasizer Ultra，Zetasizer Nano ZS，Zetasizer Pro

（3）Spraytec: Spray Particle Size Analyzer

（4）Sysmex FPIA-3000: Flow Particle Image Analyzer

   2、Beckman Coulter

（1）LS係列：LS 13 320 XR，LS 13 320 MW

（2）Multisizer係列：Multisizer 4e

（3）DelsaMax係列：DelsaMax PRO，DelsaMax CORE

   3、HORIBA Scientific

（1）LA係列（liè）：LA-960V2，LA-350

（2）SZ係列：SZ-100

（3）CAMSIZER係列：CAMSIZER X2，CAMSIZER P4

   4、Anton Paar

（1）Litesizer係列：Litesizer 500，Litesizer 100

（2）PSA係列：PSA 990，PSA 1090

   5、Microtrac (Nikkiso)

（1）Bluewave: Particle Size Analyzer

（2）SYNC: Laser Diffraction Analyzer

（3）Nanotrac Wave II: Dynamic Light Scattering Analyzer

   6、Sympatec

（1）HELOS係列：HELOS/BR，HELOS/KR

（2）QICPIC係列：QICPIC/R，QICPIC/L

（3）NANOPHOX: Photon Cross-correlation Spectroscopy Analyzer

   7、Particle Sizing Systems (PSS)

（1）Nicomp係列：Nicomp 380，Nicomp DLS/ZLS

（2）AccuSizer係列：AccuSizer 780，AccuSizer Mini

   8、Micromeritics

（1）SediGraph III Plus: Particle Size Analyzer

（2）Saturn DigiSizer II: High-Definition Digital Particle Size Analyzer

   9、Brookhaven Instruments

（1）90Plus: Particle Size Analyzer

（2）ZetaPALS: Zeta Potential Analyzer

（3）NanoBrook係列：NanoBrook 90Plus PALS，NanoBrook ZetaPlus

   10、Bettersize Instruments

（1）Bettersizer 2600: Laser Particle Size Analyzer

（2）Bettersizer S3 Plus: Image Particle Size Analyzer

（3）BeNano係列（liè）：BeNano 90 Zeta

   11、Fritsch

（1）ANALYSETTE 22 NeXT係列：ANALYSETTE 22 NeXT Micro，

                                                      ANALYSETTE 22 NeXT Nano

   12、AimSizer

（1）AS-2011: Laser Particle Size Analyzer

（2）AS-2012: Dynamic Light Scattering Particle Size Analyzer

   13、CILAS

（1）CILAS 990: Laser Particle Size Analyzer

（2）CILAS 1090: Laser Particle Size Analyzer

   14、Entegris

（1）AccuSizer A2000: Single Particle Optical Sizing System

（2）Nicomp N3000: Dynamic Light Scattering System

   15、Retsch Technology

（1）CAMSizer係列：CAMSizer X2，CAMSizer P4

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