雙頻激光幹涉儀是一種基於外(wài)差幹涉原理的高精度測量儀器,它在單頻激光(guāng)幹涉(shè)儀的基礎上發(fā)展而(ér)來,通過利(lì)用兩個不(bú)同頻率的激光束進行幹涉測量,實現了(le)對位移、長度(dù)、角度等多種(zhǒng)物理量的高精(jīng)度測量。該儀器廣泛應用(yòng)於精密機械加(jiā)工、計量檢測、科學研究等領域,是提高設備(bèi)精度(dù)和檢測效率(lǜ)的重要(yào)工具。

一、雙頻激光幹涉儀的原理
雙頻激光幹涉儀(yí)的工作原理基(jī)於塞(sāi)曼分裂效應和頻率牽引效應。在氦氖激光器上(shàng)施加一個約0.03特斯拉的軸向磁場(chǎng),使激光器產生兩個不同頻率(f1和f2)的左旋和右旋圓偏振光(guāng)。經過一係列的光學元件處理後,這兩個光束被分為參考光束和(hé)測量光束(shù)。當可動反射鏡移動時,由於多普勒效應,測量光束的頻率會發生變化(f2 ± Δf),而參考光束的頻率保持不變(biàn)。兩束光在光電探測器上發生幹涉,產(chǎn)生包(bāo)含頻率(lǜ)差Δf的電信號。通過計數頻率差的變化,可以計算出可動反射鏡(jìng)的位移量。

激光源:雙頻激光幹涉儀(yí)使用一個激光器,產生兩束(shù)頻率不(bú)同(tóng)的激光。常用的(de)激光器包(bāo)括(kuò)氦氖激光器(qì)和半導體激光(guāng)器。
光學分束:激光束經過分束器分成兩束光,一束作為參考光束,另(lìng)一束作為測量(liàng)光束(shù)。
光路設計:參考光束經(jīng)過(guò)固定光路,測量光束經過可變光路。兩束(shù)光在幹涉儀中重新匯合,產生幹涉條紋(wén)。
幹涉條紋:幹涉條(tiáo)紋的移動反映了測量光路長度(dù)的變化。通過分析幹涉條紋(wén)的變化,可(kě)以(yǐ)精確計算出被測量物體的位移或長度變化。
信號處理:幹涉條紋信號經過光電探測器轉換為電信號,經(jīng)過(guò)信號處理後得到測量結果。

二、使用方法(fǎ)
係統連接:通過通訊電纜將筆記本電腦與(yǔ)激光幹涉(shè)儀(yí)、環境補償單元及打印機等連接,並接通(tōng)電源(yuán)。
激光預熱:閉(bì)合激光幹涉儀開關,使激光預熱約15~20分鍾,待激光穩定後(指(zhǐ)示燈變為綠色)再進行測量。
軟件啟動:打開筆記本電腦(nǎo),啟動測量(liàng)軟件(jiàn),並進入相應的(de)測量子程序。
光學(xué)鏡安裝(zhuāng):將激光幹涉儀、反射鏡及分光鏡等光學元件固定在測量三腳架和機床的適當位置,並進行準直調整。
目(mù)標值設定:根據(jù)測量要求設定(dìng)目標值,並編製數控測(cè)量程序。
數據采集:啟動數據采集程序,進行自動或手動數據采集,並(bìng)監控測量數據(jù)

三、雙頻(pín)激光幹涉儀的常見故障和維(wéi)修(xiū)方法
激光器故障:
光路偏(piān)移:
光電探測器故障:
環境幹擾:
信號處理器故障:

五、注意事項(xiàng)與維護
環境要求(qiú):儀器應放置在幹燥、清潔和無振動的環境中(zhōng),避免潮濕和灰塵對光學部件的影響。
移動與(yǔ)存放:移動(dòng)儀器時應握住底座,防止導軌變形;光學部件不使用時應存放在清潔(jié)幹燥的容器中。
清潔與潤滑:盡量避免擦拭鏡子和分光鏡等(děng)光學部件,必要時(shí)用(yòng)科學的方(fāng)法清洗;傳動部件應定期潤滑,保持良好的工作狀態。
使用(yòng)規(guī)範:使用時要避免強行轉動、硬拉等不當操作,對每(měi)個(gè)調節部(bù)件(jiàn)施加(jiā)適(shì)當的力。

六、容(róng)濟機電公(gōng)司維(wéi)修過的雙頻激(jī)光幹涉儀品牌和型號
1、Renishaw
(1)XL-80: 高精度激光幹涉儀係(xì)統
(2)HS20: 雙頻激(jī)光幹(gàn)涉儀,用於大(dà)範圍位置測量
2、Keysight Technologies (formerly Agilent Technologies)
(1)5519A/B: 雙頻激光幹涉儀(yí),用於高精度定位和測量
(2)5530: 激光幹涉(shè)儀係統(tǒng),支持多種測量應(yīng)用
3、Zygo Corporation
(1)ZMI 4000 係列: 雙頻激光幹涉儀,用於高精度位(wèi)置和速度測量(liàng),
ZMI 4500,ZMI 4100
(2)ZMI 2000 係列: 高性能雙頻激光幹涉儀,
ZMI 2400,ZMI 2002
4、Sioses Messtechnik
(1)SP 2000 係列: 雙頻(pín)激光幹涉儀係統,用於精密長度和角度測量,
SP 2000,SP 2000 TR
(2)SP 5000 係列: 高(gāo)分辨率雙頻激光幹涉儀,
SP 5000 NG,SP 5000 TR
5、Hamar Laser Instruments
(1)L-730 係列: 雙頻激光幹涉儀,用於(yú)機器(qì)校準和對準,
L-730,L-740,
(2)L-750 係列: 高精度雙頻激光幹涉儀,
L-750
6、API (Automated Precision Inc.)
(1)XD 係列: 高精度激光幹涉儀係統,XD6,XD8
7、Renishaw/Anorad (合作品牌)
(1)RLE 係(xì)列: 高性能激光幹涉(shè)儀,RLE10,RLE20
8、Mahr Metrology
(1)MarForm MFU 係列: 高精度激光幹涉儀,用於形(xíng)狀測量和表麵輪廓測量
MFU 100,MFU 200
9、Mitutoyo
(1)Laser 20: 雙頻激光幹涉儀,用於高精度位置測量
(2)Laser 30: 高性能雙頻激光幹涉儀
10、Status Pro
(1)EZ-EL 係列: 高精度激光幹涉儀(yí)係統
EZ-EL-A,EZ-EL-B
11、東京精密(Tokyo Seimitsu):LV-50
12、馬波斯(Marposs):BLU 係列,
BLU LT: 用於長度和位移測量
BLU LI: 用於直線性和(hé)角度測量

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